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【“源”察秋毫系列】纖維器件及其陣列電學(xué)測試方案詳解
使用電壓表或SMU源表等測試設(shè)備（如數(shù)字多用表的電壓測量檔等），將電壓表的探頭與纖維電學(xué)器件的兩個(gè)輸出電極相連接，確保連接牢固且接觸良好，以減少接觸電阻對測量結(jié)果的影響。當(dāng)纖維電學(xué)器件處于工作狀態(tài)（如受到特定刺激，像壓電纖維器件受到外力作用、光電器件受到光照等）或在特定的電路環(huán)境下運(yùn)行時(shí)，電壓表會實(shí)時(shí)顯示出器件兩端的電位差，即輸出電壓值。
2024-12-02
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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀的FFT分析
傅立葉分析可以將時(shí)域信號與頻域信號進(jìn)行轉(zhuǎn)換?？焖俑盗⑷~變換（FFT）計(jì)算在獲取時(shí)間相關(guān)的直流信號（如電流、電壓）并將其轉(zhuǎn)換為頻率和基于交流的參數(shù)，如電流譜密度、1/f噪聲、熱噪聲和交流阻抗）時(shí)非常有用。源測量單元 （SMU）和脈沖測量單元（PMU）是4200A-SCS參數(shù)分析儀的模塊，用于在時(shí)域測量和加載輸出電流或電壓。儀器對這些基于時(shí)間的測量可以通過FFT計(jì)算轉(zhuǎn)換為頻域的參數(shù)。
2024-08-07
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新型SMU克服低電流容性設(shè)置的棘手測試挑戰(zhàn)
在測試設(shè)置中使用長電纜或容性卡盤時(shí)，測試儀器輸出的電容會提高，導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確或不穩(wěn)定，尤其是非常靈敏的弱電測量，因?yàn)樗瑫r(shí)還要提供或掃描DC電壓。為解決這些挑戰(zhàn)，泰克科技旗下公司吉時(shí)利為Keithley 4200A-SCS推出了兩種新的源測量單元(SMU)模塊，即使在高測試連接電容的應(yīng)用中，仍能進(jìn)行穩(wěn)定的弱電測量。
2021-12-24
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如何實(shí)現(xiàn)多通道SMU源測量單元？這里有一款實(shí)用解決方案~
實(shí)現(xiàn)一款高集成度、精密、較大功率的多通道源測量單元（SMU）需要突破哪些設(shè)計(jì)難點(diǎn)？要實(shí)現(xiàn)全象限的Force Voltage / Measure & Clamp Current以及Force Current / Measure & Clamp Voltage的功能，如果要使用離散器件搭建整個(gè)控制環(huán)路，無疑是非常復(fù)雜的。
2021-04-01
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【當(dāng)代材料電學(xué)測試】系列之四：寬禁帶材料測試
材料性質(zhì)的研究是當(dāng)代材料科學(xué)的重要一環(huán)，所謂材料的性質(zhì)是指對材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料對電、磁、光、熱、機(jī)械載荷的反應(yīng)。源表SMU 在當(dāng)代材料科學(xué)研究中，起到舉足輕重的作用，選擇適合某類材料電性能測試的SMU，如何降低測試誤差，測試中應(yīng)當(dāng)注意什么，這些問題都需要重點(diǎn)關(guān)注。
2021-03-26
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【當(dāng)代材料電學(xué)測試課堂】系列之一： 納米測試（上）
材料性質(zhì)的研究是當(dāng)代材料科學(xué)的重要一環(huán)，所謂材料的性質(zhì)是指對材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料對電、磁、光、熱、機(jī)械載荷的反應(yīng)。源表SMU 在當(dāng)代材料科學(xué)研究中，起到舉足輕重的作用，選擇適合某類材料電性能測試的SMU，如何降低測試誤差，測試中應(yīng)當(dāng)注意什么，這些問題都需要重點(diǎn)關(guān)注。
2021-03-15
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RL電路的瞬態(tài)響應(yīng)
在《模擬對話》2017年12月文章中介紹SMU ADALM1000 之后，我們希望將該系列續(xù)寫下去，介紹一些小的基本測量。本實(shí)驗(yàn)活動的目標(biāo)是通過脈沖波形研究串聯(lián)RL電路的瞬態(tài)響應(yīng)并了解時(shí)間常數(shù)的概念。
2021-01-13
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什么是相位，我們?yōu)楹我P(guān)心相位？
在《模擬對話》2017年12月文章中介紹SMU ADALM1000 之后，我們希望進(jìn)行一些小的基本測量，這是ADALM1000系列的第六部分。本實(shí)驗(yàn)活動的目標(biāo)是了解何謂信號之間的相位關(guān)系，以及理論在何種程度上與實(shí)踐吻合。
2021-01-13
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戴維寧等效電路和最大功率傳輸
在《模擬對話》2017年12月文章中介紹SMUADALM1000之后，我們希望進(jìn)行一些小的基本測量，這是ADALM1000系列的第三部分。本實(shí)驗(yàn)活動的目的是通過獲得給定電路的戴維寧等效電壓(VTH)和戴維寧等效電阻(RTH)來驗(yàn)證戴維寧定理，然后驗(yàn)證最大功率傳輸定理。
2021-01-12
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RC電路的瞬態(tài)響應(yīng)
在《模擬對話》2017年12月文章中介紹SMUADALM1000之后，我 們希望進(jìn)行一些小的基本測量，這是ADALM1000系列的第四部分。本實(shí)驗(yàn)活動的目標(biāo)是通過脈沖波形研究串聯(lián)RC電路的瞬態(tài)響應(yīng)并 了解時(shí)間常數(shù)的概念。
2021-01-12
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支持千倍以上負(fù)載電容的靈敏測試
使用長電纜或電容夾頭的測試設(shè)置會增加測試儀器輸出的電容，導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確或不穩(wěn)定。當(dāng)輸出或掃描直流電壓并測量異常靈敏的低電流時(shí)，能觀察到這種效應(yīng)。為了應(yīng)對這些挑戰(zhàn)，泰克為吉時(shí)利4200A-SCS參數(shù)分析儀引入了兩個(gè)新的源測量單元（SMU）模塊，即使在測試連接電容較高的應(yīng)用中，該模塊也可以進(jìn)行穩(wěn)定的低電流測量。
2020-02-14
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【4200 SMU應(yīng)用文章】之實(shí)例篇：高測試連接電容下穩(wěn)定測試弱電流
源測量單元(SMU)是一種可以提供電流或電壓，并測量電流和電壓的儀器。SMU用來對各種器件和材料進(jìn)行I-V表征，是為測量非常靈敏的弱電流，同時(shí)提供或掃描DC電壓而設(shè)計(jì)的。但是，在擁有長電纜或其他高電容測試連接的測試系統(tǒng)中，某些SMU可能不能在輸出上容忍這樣的電容，從而產(chǎn)生有噪聲的讀數(shù)和/或振蕩。
2019-12-10
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